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PZ-L3230微分干涉相襯金相顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統與透射照明系統、無限遠長距平場消色 差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

PZ-20DIC型倒置微分干涉相襯金相顯微鏡采用無限遠光學系統，可提供光學性能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設計，可以方便升級系統，實現偏振觀察、暗視場觀察、明視場微分干涉觀察等功能。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。可用于半導體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業試樣的顯微觀察，是材料學、精密電子工程學等領域研究的理想儀

PZ-100DI微分干涉相襯工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察, DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。

PZ-20BDDIC明暗場微分干涉相襯金相顯微鏡采用無限遠光學系統，可提供光學性能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設計，可以方便升級系統，實現偏振觀察、暗視場觀察、明視場微分干涉觀察等功能。照明系統充分考慮散熱性與安全性，可快速更換燈泡。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。可用于半導體硅晶片、LCD基板、固體粉未。

XJL-20/20BD金相分析顯微鏡采用無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。

工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察、暗場觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。